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谱析光晶申请具有高频控制与快散热功能的鳍形耗尽型GaN HEMT器件专利实现了极高的电流密度与功率密度

国家知识产权局信息显示,杭州谱析光晶半导体科技有限公司申请一项名为“一种具有高频控制与快散热功能的鳍形耗尽型GaN HEMT器件”的专利,公开号CN121357940A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,本发明涉及氮化镓半导体技术领域,且公开了一种具有高频控制与快散热功能的鳍形耗尽型GaNHEMT器件,包括衬底、氮化镓结构和场效应晶体管;所述氮化镓结构包括缓冲层、氮化镓通道层、铝镓氮势垒层、漏极一、源极一、P型氮化镓层和栅极一;所述场效应晶体管包括P缓冲层、k8凯发官网入口源极二、栅极二、漏极二和栅氧化层,所述衬底的左端表面沉积生成有若干鳍状凸起结构,所述氮化镓结构位于鳍状凸起结构上形成鳍形GaN结构;所述场效应晶体管位于衬底的右端表面处,其中所述场效应晶体管上的源极二与栅极一直接连接。本发明通过将GaNHEMT制备于三维鳍形结构之上,显著增大了单位芯片面积内的导电沟道面积,从而实现了极高的电流密度与功率密度。
天眼查资料显示,杭州谱析光晶半导体科技有限公司,成立于2020年,位于杭州市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本826.4856万人民币。通过天眼查大数据分析,杭州谱析光晶半导体科技有限公司共对外投资了10家企业,参与招投标项目22次,财产线条,此外企业还拥有行政许可2个。
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2026-01-24 18:43:37
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